Bruker 探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）DektakXT

(一)、概述

布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列長(zhǎng)達(dá)四十年的表面測(cè)量技術(shù)。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，在微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度LED、觸摸屏、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域大顯身手。