MX 203-8-37(手動)
晶圓尺寸Wafer Size:150/200mm
厚度精度:±0.5 µm
分辨率:50nm
厚度范圍:400-1000µm
MX 204-8-37(半自動)
晶圓尺寸Wafer Size:150/200mm
厚度精度:±0.5 µm
分辨率:50nm
厚度范圍:400-900µm
MX 2012(半自動/自動)
晶圓尺寸Wafer Size:300mm
厚度精度:±0.5 µm
分辨率:50nm
厚度范圍:500-1000µm
MX 203/204-Q系列可測石英,鈮酸鋰,半絕緣碳化硅襯底等絕緣或/半絕緣(>1E7 Ohm*cm)襯底。






所有評論僅代表網(wǎng)友意見,與本站立場無關(guān)。