表面殘留分析儀可以監測到 0.3 μg/cm2殘余量的有機化合物殘留，表面殘留檢測儀可廣泛用于金屬，玻璃，聚合物表面的材料檢測分析,是的表面殘留分析儀。
表面殘留分析儀特點
采用的FTIR光譜技術，
高精度地探測物體表面的有機化合物，
是目前范圍內這一技術的靈敏度zui高的表面檢測儀器。.jpg)
表面殘留分析儀特點
可以監測到 0.3 μg/cm2殘余量的有機化合物殘留，
可廣泛用于金屬，玻璃，聚合物表面的材料檢測分析。
比如，計算機硬盤和制藥反應器表面的殘留都可以使用這種檢測，即使存在清潔劑和其它輔料等殘留，也可以分析檢測到原料藥成分（APIs）.
能夠實時分析復雜表面，手持式測量探頭放置到表面上就可以直接測量，使用非常簡易方便。
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