這款顯微顆粒識(shí)別儀RAP-explorer采用的拉曼光譜儀和激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀技術(shù),有效分析微粒材質(zhì)成分,對(duì)顆粒表征分析,從而有效識(shí)別顆粒材質(zhì),檢測(cè)分析顆粒成分。

這款顯微顆粒識(shí)別儀采用的Raman識(shí)別和LIBS識(shí)別技術(shù)，在cGMP環(huán)境下有效提高粒子表征分析效率。這種的顯微顆粒識(shí)別儀器配備了全自動(dòng)顯微鏡功能和集成光譜學(xué)。 顯微顆粒識(shí)別儀允許您在短的時(shí)間內(nèi)只對(duì)一個(gè)可見(jiàn)的顆粒物質(zhì)或數(shù)千微粒進(jìn)行分析。 根據(jù)您的用戶(hù)級(jí)別，您的科學(xué)研究具有大的靈活性，或者是簡(jiǎn)化您的較佳做法藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范日常質(zhì)量控制的好工具。
顯微顆粒識(shí)別儀操作
數(shù)集成的樣品制備 - 分散您的顆粒 - 干燥或潮濕，或?qū)⑵渑c標(biāo)準(zhǔn)過(guò)濾器貼片隔離。 獲得的涂層過(guò)濾膜，過(guò)濾器AID可以很容易地從液體中分離出顆粒，為raman.ID提供了的底物。柔性顯微鏡 - 確保任何基體上任何顆粒的對(duì)比 - 柔性照明包括：熒光選項(xiàng)，偏振照明，暗場(chǎng)和明場(chǎng)照明。
超快速可重復(fù)的粒子識(shí)別 - 允許您使用您選擇的分辨率進(jìn)行掃描，以便檢測(cè)顆粒。 圖像定向光譜能夠識(shí)別每小時(shí)多達(dá)3000個(gè)單個(gè)顆粒。
智能光譜目標(biāo)采集 - 使用計(jì)算機(jī)化或手動(dòng)二值化，無(wú)限形態(tài)參數(shù)，選擇顆粒物進(jìn)行光譜鑒定。
*的拉曼和LIBS光譜 - 世界上個(gè)組合顆粒物質(zhì)元素和結(jié)構(gòu)分析設(shè)置，簡(jiǎn)化了工業(yè)和法醫(yī)工作中的外來(lái)顆粒物識(shí)別。 比較和組合來(lái)自?xún)煞N獨(dú)立光譜方法的材料指紋，以獲得大的辨別力。
高度直觀的軟件 - 從初學(xué)者到專(zhuān)家級(jí)別，真正易于使用的軟件。 創(chuàng)建并優(yōu)化您的測(cè)量參數(shù)，并將它們放入的可跟蹤報(bào)告文件中，以實(shí)現(xiàn)大的GMP合規(guī)性和測(cè)量重現(xiàn)性。
完整的可追溯性和的培訓(xùn)和支持 - 藥物質(zhì)量控制的不斷創(chuàng)新，以及15年以上21 CFR Part 11法規(guī)的經(jīng)驗(yàn)，確保該儀器在您的藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范環(huán)境中非常適用。 德國(guó)和美國(guó)的rap.ID服務(wù)團(tuán)隊(duì)保證您的電話響應(yīng)時(shí)間為12小時(shí)。 
 
 
顯微顆粒識(shí)別儀流線型顆粒物分析
樣品制備
通過(guò)外部計(jì)算機(jī)控制的干燥分散單元在柔性濕細(xì)胞中分散顆粒，或簡(jiǎn)單地將顆粒過(guò)濾到過(guò)濾器AID膜上或簡(jiǎn)單的紙過(guò)濾器上。
自動(dòng)顯微鏡
基于測(cè)量方法，照射樣品以?xún)?yōu)化底物和顆粒之間的對(duì)比度。 自動(dòng)對(duì)焦操作確保可重復(fù)清晰的圖像。
粒子分析
使用合適的閾值算法或您的預(yù)設(shè)參數(shù)識(shí)別單個(gè)粒子，并根據(jù)其形態(tài)參數(shù)單獨(dú)測(cè)量。
目標(biāo)選擇
每個(gè)粒子圖像與粒子的位置數(shù)據(jù)一起存儲(chǔ)。 接觸多個(gè)視野的粒子被合并成一個(gè)粒子對(duì)象。
較有趣的粒子通過(guò)更高的功率倍率和甚至3D疊層記錄和拍攝，具有大的聚焦深度，以獲得較佳（X，Y和Z）光譜位置。 還測(cè)量了顆粒的高度。
化學(xué)鑒定
然后通過(guò)拉曼和/或LIBS光譜法測(cè)量物理表征的顆粒。 將譜圖立即與文庫(kù)中預(yù)先記錄的光譜進(jìn)行比較，以產(chǎn)生可靠的匹配


第二光譜學(xué)
如果您對(duì)顆粒物質(zhì)的元素感興趣，您可以使用785 nm激光或激光誘導(dǎo)分解光譜（LIBS）自動(dòng)應(yīng)用拉曼光譜。
將顆粒的形態(tài)，化學(xué)結(jié)構(gòu)和元素豐度的結(jié)果相結(jié)合，提供*的信息，特別有助于將以前未知的顆粒轉(zhuǎn)移到已知顆粒中。
寫(xiě)入合規(guī)報(bào)告并存儲(chǔ)原始數(shù)據(jù)，以便在必要時(shí)可以進(jìn)行復(fù)制。
編制大型標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告，將形態(tài)，顏色，大小，化學(xué)結(jié)構(gòu)和要素結(jié)合成引人注目的信息
的樣品制備
過(guò)濾
金涂層過(guò)濾器（具有0.8,3,5和10μm孔徑的過(guò)濾器膜）是確保魯棒計(jì)數(shù)和拉曼信號(hào)無(wú)襯底干擾的基材。
濕分散
專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于從生物治療學(xué)中的聚集體和微粒獲得的*的低噪聲拉曼信號(hào)。
干分散
標(biāo)準(zhǔn)化和計(jì)算機(jī)控制的粉末分散體將粉末推入真空中。 顆粒緩慢地落下并且分布在任何種類(lèi)的基材上。
柔性成像（顯微鏡）設(shè)置所需的照明和放大倍率后，軟件會(huì)自動(dòng)在明場(chǎng)，暗場(chǎng)和熒光模式下拍攝顆粒圖像。
所需的照明取決于顆粒和基材。 對(duì)于外來(lái)顆粒物質(zhì)的形態(tài)導(dǎo)向拉曼光譜，金涂層過(guò)濾器AID過(guò)濾器是較佳的。 該樣品的較佳照明是暗場(chǎng)選項(xiàng)。

 
的粒子檢測(cè)
該系統(tǒng)使用不同的掃描目標(biāo)（粒子識(shí)別）和光譜儀進(jìn)行的粒子檢測(cè)。 SPE自動(dòng)應(yīng)用右鏡頭獲得較佳信號(hào)，并將分析激光與粒子對(duì)準(zhǔn)。 這種粒子坐標(biāo)在不同放大倍率下的轉(zhuǎn)移，并確保超快速的圖像分析定向光譜。
該系統(tǒng)收集顆粒的形態(tài)和位置，無(wú)需任何用戶(hù)互動(dòng)。 您可以為樣品選擇較佳的6種綜合手動(dòng)或自動(dòng)閾值算法。
數(shù)量，大小：
顆粒鼬的直徑（長(zhǎng)尺寸），顆粒圓形當(dāng)量直徑或拉伸纖維長(zhǎng)度
形狀：
長(zhǎng)寬比 角度，矩形，伸長(zhǎng)率，面積，周長(zhǎng)，圓形度，堅(jiān)固性，纖維性，凸度和高度
粒子顏色圖像：
自動(dòng)收集和記錄顆粒的高分辨率銳利（自動(dòng)對(duì)焦）彩色圖像
 
 
利用預(yù)定義的方法照明，自動(dòng)閾值和自動(dòng)對(duì)焦，建立了一個(gè)完整的測(cè)試方法。 這確保了計(jì)數(shù)結(jié)果的高重復(fù)性和可重復(fù)性。
超快速圖像光譜目標(biāo)采集
儀器會(huì)自動(dòng)掃描樣品表面的顆粒。 您選擇正確的放大倍數(shù)，取決于粒徑，例如 5倍的粒子> 25微米。 計(jì)數(shù)樣品中的所有顆粒都不到一分鐘。 放大倍率越小，場(chǎng)越大的視圖，掃描速度越快。 對(duì)于光譜學(xué)來(lái)說(shuō)，功能*的raman.IDSPE設(shè)備將光學(xué)顯微鏡與可靠的光譜診斷相結(jié)合，從而為1.5億種化學(xué)物質(zhì)提供組成鑒定。 raman.ID提供分子的指紋圖譜。 在不到60秒內(nèi)，您將收集有關(guān)樣品化學(xué)結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息，使初未知的有機(jī)和無(wú)機(jī)微粒變得。 它甚至在水中起作用，因此您可以通過(guò)使用濕細(xì)胞進(jìn)行調(diào)查來(lái)收集有關(guān)顆粒物的有價(jià)值的信息。
 
 
 
ID化學(xué)結(jié)構(gòu)，多個(gè)raman.ID顏色
拉曼光譜與激光一起工作。 激光顏色是可變的。 根據(jù)您的樣品，您可以選擇合適的波長(zhǎng)或測(cè)試組合。 綠色532nm激光器具有低噪音和超快的曝光時(shí)間，這對(duì)于白色粉末和蛋白質(zhì)聚集體是的。 來(lái)自環(huán)境的顆粒，所謂的外在顆粒，需要紅色785 nm激光，使熒光小化。 如果你不知道你有哪些，讓儀器使用兩種激光器，并選擇更高質(zhì)量的光譜。
 
微LIBS.ID
SPE設(shè)備還將光學(xué)顯微鏡與高度可靠的自動(dòng)元件分析系統(tǒng)相結(jié)合。 在一秒鐘內(nèi)，它提供樣品的化學(xué)元素的身份。 這是使未知的無(wú)機(jī)和金屬材料樣品成為已知的信息。
ID化學(xué)元素從到激光誘發(fā)擊穿光譜法（LIBS）可以很好的識(shí)別輕質(zhì)的氫。 合金定量組合物，例如 鋁中的銅可以低至0.1質(zhì)量百分比。
μ鉆和表面清潔劑來(lái)自LIBS工藝的消融可以在微秒內(nèi)去除樣品的頂層（?1μm）。 這有助于通過(guò)表面涂層或污染物進(jìn)行測(cè)量。 您還可以訪問(wèn)樣品深層以下的材料。
高度直觀的軟件從簡(jiǎn)單的參數(shù)設(shè)置，您可以將您的方法開(kāi)發(fā)轉(zhuǎn)化為堅(jiān)實(shí)的GMP證明測(cè)量進(jìn)行分析。 在整個(gè)測(cè)量運(yùn)行中，報(bào)告中包含的單個(gè)光譜或整個(gè)數(shù)據(jù)集包含在內(nèi)復(fù)雜的光譜處理
對(duì)于每個(gè)顆粒，符合21 CFR Part 11的報(bào)告顯示以下內(nèi)容：
原始光譜- 系統(tǒng)獲得的頻譜加工光譜- 背景和熒光去除整合后的原始光譜圖書(shū)館匹配結(jié)果- 根據(jù)您的匹配算法，較佳數(shù)據(jù)庫(kù)匹配，例如 皮爾森總可追溯性減輕用戶(hù)偏差，并通過(guò)認(rèn)證的尺寸，數(shù)量和材料標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)生有效的，可追溯的結(jié)果，并將整個(gè)原始數(shù)據(jù)保存在加密的CFR 21 Part 11兼容文件中。 來(lái)自物理實(shí)驗(yàn)室的數(shù)字和大小的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)自每個(gè)系統(tǒng)。 為了確保可靠的光譜，您可以使用可追溯材料標(biāo)準(zhǔn)來(lái)顯示系統(tǒng)正在校準(zhǔn)。