近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM采用SNOM技術(shù)幫助用戶(hù)獲得大的光學(xué)空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計(jì)數(shù)模式的熒光和光學(xué)圖像。
近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM特點(diǎn)
具有原子力顯微鏡AFM工作模式
具有激光和燈泡照明成像
可以提供訂制化探針
光子計(jì)數(shù)模式的熒光和光學(xué)圖像
近場(chǎng)掃描光學(xué)圖像具有采集和照明模式
透過(guò)或反射模式選配
20nm光學(xué)分辨率（Raleigh標(biāo)準(zhǔn)空間分辨率）
光學(xué)顯微鏡支架，配備長(zhǎng)工作距離物鏡
飛秒激光或紫外激光激發(fā)
真實(shí)單分子探測(cè)
環(huán)境光防護(hù)裝置
近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM應(yīng)用
分子光譜學(xué)，熒光，表面科學(xué)，薄膜，生物學(xué)，化學(xué)，固體物理，納米技術(shù)，材料科學(xué)，醫(yī)學(xué)等
近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM規(guī)格參數(shù)
（XY樣品掃描器部分）
20mm直徑，中間開(kāi)口
大掃描尺寸： 40μm x 40μm
小掃描步進(jìn)： 0.01nm
大圖像尺寸: 1024 x 1024像素
XY大行程： 10mm x 10mm (計(jì)算機(jī)控制)
光學(xué)分辨率： 50nm典型值 (受探針和樣品影響)
（壓電Z軸臺(tái)安裝探針）
大Z-升降行程: 9 mm
Z掃描大范圍: ±5 μm
（光子計(jì)數(shù)）
大光子計(jì)數(shù)速率: 5 x 107 cps
暗計(jì)數(shù): < 10 cps
光譜相應(yīng): 185 - 680 nm (185 nm - 850nm可選)
（照明光源）
150 W quartz - halogen lamp
670 nm laser diode
532 nm solid state laser
488 nm Ar-ion or solid state laser
400 nm femtosecond laser
（建議探針）
633 nm single mode, Al - coated (50 - 80 nm aperture), 100 kHz resonance
400 nm single mode, Al - coated (<100 nm aperture), 32 kHz resonance
尺寸
光學(xué)單元部分（帶有 light-tight box）: 350 (W) x 460 (D) x 460 (H)mm
電子控制單元部分: 19” rack mountable or 170 (W) x 420 (D) x 200 (H)
近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡
產(chǎn)品二維碼| 參 考 價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 產(chǎn)品型號(hào)：FPDEL-nsom
- 品牌：
- 產(chǎn)品類(lèi)別：顯微鏡
- 所在地：上海市
產(chǎn)品標(biāo)簽:
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