3650 SoC 測試系統

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 512個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構
• 32 DUTS 平行測試功能
• ADC/DAC 測試功能
• 硬體規則模式產生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學易用的 Windows XP 作業環境
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750, SC312)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool等等
• 實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產品的測試方案

平行測試功能 
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供zui多512個數位通道，並具備高產能的平行測試功能，zui高可同時測試 32 個待測晶片，以提升量產效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有64個數位通道，並結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備 4 個數位通道的時序產生器，以提供50ps 以內的精準度。

彈性化架構 
雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之上。Chroma 3650在設計其架構時，應用先進的規劃，具備AD/DA 轉換器測試模組、ALPG記憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的測試需求。

CRISP (軟體測試環境) 
架構在Windows XP作業系統上的Chroma 3650的軟體測試環境CRISP(Chroma Integrated Software Platform)，是一個結合工程開發與量產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包含 : Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需求 ; 此外，Histogram tool 可用於重覆任一測試參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試流程之穩定度。

在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生產人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品導向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的各項參數，以符合生產環境的需求。而操作員所需進行的工作，只是選擇程式設計者已規劃好的流程，即可開始量產，大幅降低生產線上的學習的時間。

位的測試解決方案 
要配合現今功能日趨複雜的IC晶片，需要具備功能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統的價格而已。 Chroma 3650的設計即是可適用於所有類型的應用環境，例如 : 工程驗證、晶圓測試和成品測試。週邊設備。

Chroma 3650支援多種裝置的驅動程式介面(TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKOEPSON 、SHIBASOKU 、MULTI - TEST 、ASECO 、 DAYMARC、、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

應用支援 
不管是新客戶或是現有客戶，Chroma 均提供廣泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符合使用者的需求。不管使用者要快速提昇生產量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創新策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容量，Chroma 位於的客服支援人員皆會竭盡所能提供客戶即時解有效率的解決方案。