開關按鍵打擊壽命試驗機電子元器件的可靠性測試方法和要求與電子設備的可靠性試驗方法和要求是不一樣的。對電子元器件的可靠性測試來說，既包含有模擬現場使用條件的—般失效率試驗，又包含有大應力強度的加速壽命試驗，而對電子設備而言，則是指模擬現場工作條件和環境條件而進行的可靠性測試。 本機器可測試NATEBOOK（手機、PDA）之按鍵及各種按鈕、開關之耐久壽命試驗。可同時測試數個產品，每個產品均可多點測試（另每個按鍵可以設定不同壓力及不同高低）。
開關按鍵打擊壽命試驗機規格說明：
測試速度：1-6回/秒 速度可調；
測試壓力：MAX：5KG；測試頭荷重：0.5KG 、1KG、2KG、5KG可任選；
上下行程：10mm；測試臺上下移動量：8080mm；
測試臺尺寸：50mm；
沖擊運動方式：上下壓縮機構采直線軸承運動，定位精準；
導電測試：按鍵破壞不導電時自動停機裝置；
計數器：可設8位數：9999999次自動停機；
按觸警示燈：測頭與金屬簧片接觸警示；
電機：進口電機；控制系統：微電腦控制；電壓：220V；
規格說明：
測試速度：1-6回/秒 速度可調；
測試壓力：MAX：5KG；測試頭荷重：0.5KG 、1KG、2KG、5KG可任選；
上下行程：10mm；測試臺上下移動量：8080mm；
測試臺尺寸：50mm；
沖擊運動方式：上下壓縮機構采直線軸承運動，定位精準；
導電測試：按鍵破壞不導電時自動停機裝置；
計數器：可設8位數：9999999次自動停機；
按觸警示燈：測頭與金屬簧片接觸警示；
電機：進口電機；控制系統：微電腦控制；電壓：220V；
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元器件種類 | 測試項目 |
片式電阻 | R |
金膜電阻 | R |
陶瓷電容 | C、DF、ESR、DCL |
鋁電解電容 | C、DF、ESR、DCL |
薄膜電容 | C、DF、ESR、DCL |
瓷片電容 | C、DF、ESR、DCL |
鉭電容 | C、DF、ESR、DCL |
高分子電容 | C、DF、ESR、DCL |
電感 | L、DCR |
磁珠 | Rdc、｜Z｜ |
變壓器 | L、DCR |
晶體 | FL，C0，RR，DLD2，RLD，Ts，SPRR，PWR |
晶振 | RR，DLD2，SPRR |
MOS管 | V(BR)DSS、VGS（th）、IDSS、IGSS、Rdson |
二三極管 | 二極管：VF、IR |
三極管：VCEO、VEBO、ICBO、IEBO | |
整流橋 | VF、IR |
LED&數碼管 | VR、IR、VF |
保險管 | R |
熱敏電阻 | R |
壓敏電阻 | C，漏電流，擊穿電壓 |
TVS | 漏電流，壓敏電壓
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