CH-1-S測厚儀（薄膜專用）

CH-1-S薄膜測厚儀，薄膜測厚儀，測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測頭曲率半徑:15-50mm 
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執行標準:GB6672-86  
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）.

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