梅特勒超越系列名流型XP微量天平——高性能微量分析天平
梅特勒-托利多正在改變著微量分析天平世界。超越系列XP微量分析天平特別適用將微量樣品直接加入大的去皮容器中。有效避免了樣品轉移過程中的誤差，從而為您大大節省了樣品成本，尤其是在稱量昂貴樣品時。
功能和特點
| 稱量性能：該系列微量分析天平可以提供現有分析天平具有的*高分辨率：高達的50,000,000位。 |
| 天平操作：觸摸顯示屏提供的用戶友好的操作界面。多達8個個性化設置的用戶操作界面可以被自由設定、保持和恢復。 |
| SmartSens紅外感應器：無需用手接觸天平就可以開關防風門，將樣品放置在秤盤上。稱量操作更快速、更便捷。 |
| 標準特性 | 所有型號： | |||||||||||||||
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| 規格 梅特勒 XP26 微量分析天平 | |
| *大稱量范圍 | 22 g |
| 可讀性 | 1 µg |
| 重復性 | 1.5 µg |
| 靈敏度（長時間穩定） | 1x10-6/a?Rnt |
| 靈敏度（溫度取樣泵漂移） | 1x10-6/°C?Rnt |
| 穩定時間（典型） | 3.5s |
| 外部砝碼校準 | 可選 |
| 內部砝碼校準 | ProFact, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
| 尺寸 | 263x487x322 mm |
| 稱量盤上方的有效高度 | 111 mm |
| 接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
| Linearity | 6 µg |
| Size of weighing pan | 40x40 mm |
| Minimum weigh (typical acc. USP) | 2.1 mg |
| Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 0.14 mg |
| Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
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