耦合器加熱溫升試驗(yàn)裝置符合標(biāo)準(zhǔn)GB17465.1-2009第18條、圖13以及IEC60320-1第18.2條及圖13的要求，用于耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測試。該裝置由發(fā)熱片和導(dǎo)熱片、溫控表、計(jì)時(shí)器、耦合器座子等組成。

耦合器加熱溫升試驗(yàn)裝置主要技術(shù)參數(shù)：

1)供電電源：AC220V  50Hz；

2)加熱溫度：RT常溫～200℃；

3)溫度分辨率0.1℃，誤差±1℃；

4)加熱控制方式：溫控表PID控制；

5)耦合器中心距：以Φ175的圓均布排列；

6)耦合器輸入插座：

a)10A 耐熱及耐酷熱暗裝式器具輸入插座各一個(gè)，外殼為耐熱絕緣材料（測試10A連接器）；

b)16A 耐酷熱明裝式器具輸入插座，外殼為金屬（測試16A連接器）；

7)計(jì)時(shí)器：1～9999h；

8)試樣工位：6工位；

9)試樣溫度探頭：6個(gè)；

10)試樣溫度探頭類型：T型；

11)加熱板尺寸：W200mmD200mm。

操作步驟：

1)接上電源線于市電，同時(shí)打開電源開關(guān)

2)將試樣置于耦合器座子上，并使溫度探頭與試樣接觸

3)在溫控器上設(shè)置需要加熱的zui大溫度

4)按加熱開關(guān)開始加熱，同時(shí)按計(jì)時(shí)開關(guān)

5)當(dāng)溫度到達(dá)設(shè)定值后，計(jì)時(shí)器開始計(jì)時(shí)，計(jì)時(shí)到達(dá)后自動(dòng)停止加熱，在測試過程中，溫度表時(shí)時(shí)顯示試樣的溫度。