
PantheraTEC為半導體和其他材料的檢測和分析提供了很高的價值,特別是在質量控制和技術教育方面。明場、暗場和簡易偏光以及新的LED分段照明相結合,這一概念允許傾斜入射照明角度,非常適合檢測平面和反射表面上的劃痕或其他缺陷,而無需移動樣品。
PantheraTEC具有出色的成像性能,安裝在5孔編碼轉換器上的每個目標鏡頭的光強能夠自動記憶。
規格說明
| 總放大倍數 | 50X-500X(選購100X,放大倍率1000X) |
| 目鏡 | UC-WF 10X/22,屈光度可調 +/-5 |
| 物鏡 |
Plan Achromat BF/BD 5X/10X/20X ;Plan S-APO BF/BD 50X; |
| 觀察筒 |
鉸鏈三目觀察筒,25°傾斜角, 360°旋轉,分光比50/50 |
| 雙目鏡筒瞳距 | 48-75mm |
| 樣品厚度 | 35mm |
| 物鏡轉換器 | 五孔編碼轉換器,BF、BD可選 |
| 粗微調焦裝置 | 粗、微調同軸調焦,微調:0.2mm/轉 上限位,松緊調節環 |
| 機械移動載物臺 | 3X2"機械載物臺,尺寸180(W) X 140(D)mm 行程75(X) X 50(Y)mm,6X4"載物臺可選 |
| 照明 |
LED照明 |
| 擴展功能 | 偏光觀察、透反射機型 |
| 其它 | 照明亮度追蹤,睡眠待機模式,LED亮度指示功能,BD機型智能分段環形照明 |







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