符合標準
應用領域
參數表
配件
符合標準：
IEC 61967-2 集成電路電磁發射測量 150kHz ～ 1GHz 第 2 部分：輻射發射測量 TEM 小室法 SAE J1752/3 集成電路 TEM/ 寬帶 TEM（GTEM）小室法的輻射發射測量；TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、寬帶 TEM 小室（150 kHz
至 18 GHz） IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測量 第 2 部分：輻射抗擾度測量 TEM 小室和 GTEM 小室法
應用領域：
用于測試小型集成電路，如芯片、無線通信模塊等
技術參數：
| 頻段 | DC – 2 GHz |
| 阻抗 | 50 Ω ± 5 % |
| 電壓駐波比 | DC - 3 GHz < 1.25 |
| 插入損耗 | DC - 2 GHz < 1 dB |
| 回波損耗 | DC - 2 GHz > 20 dB |
| 射頻接口 | N 型接口 |
| 待測電路板尺寸 | 100 × 100 mm |
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