EDX-T6能量色散型X熒光光譜儀

    能量色散型X熒光光譜儀的用法

  ① RoHS指令限定的有害元素快速檢測(cè)：鉛Pb/汞Hg/鎘Cd/總鉻Cr/總溴Br(PBB/PBDE);

   ② 鹵素指令限定鹵素快速檢測(cè)：氯Cl/溴Br；

  ③ 玩具/服裝/皮革等行業(yè)限定的8大重金屬檢測(cè)：鎘Cb/鉛Pb/汞Hg/鉻Cr/銻Sb/砷As/鋇Ba/硒Se；

  ④ 合金成份分析（不銹鋼/銅材等）；（擴(kuò)展功能）

  ⑤ 電鍍鍍層厚度檢測(cè)（銅鍍鎳/銅鍍錫/銅鍍銀/銅鍍金/銅鍍鎳常見(jiàn)常見(jiàn)鍍層厚度快速檢測(cè)）；（擴(kuò)展功能）

    各個(gè)元素的限定標(biāo)準(zhǔn)

元素檢測(cè)范圍，元素周期表16號(hào)硫（S）到92號(hào)鈾（U）

     可測(cè)樣品類型：液體，固體，粉末（任何材質(zhì)均可檢測(cè)）

     檢出限 ：2PPM

     測(cè)試時(shí)間：30-300S（自動(dòng)調(diào)節(jié)）

     探測(cè)器

產(chǎn)地：美國(guó)Amptek公司

探測(cè)器種類：SIPIN探測(cè)器

制冷方式：電制冷（非液氮制冷）

分辨率：135EV±5EV（數(shù)值越小，分辨率越高）

功能：對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè)，將采集來(lái)的信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，并將處理結(jié)果傳輸給計(jì)算機(jī)。

     類型：美國(guó)AMPTEK探測(cè)器(探測(cè)系統(tǒng)包括數(shù)字多道脈沖處理器DPP、信噪比增強(qiáng)器PA)