CCS Optima+ 型控制器適配STIL光譜共焦傳感器的點(diǎn)傳感器，點(diǎn)傳感器測量位于光軸上的點(diǎn)的高度，也可用來測量透明樣品的厚度。共焦位移傳感器的測量范圍根據(jù)不同光筆可選，具有垂直測量范圍從100微米到幾十mm的多種不同型號，兼容所有CL系列、OP系列與ENDO系列的不同光筆探頭，最多可實(shí)現(xiàn)20個(gè)不同的光筆在同一個(gè)控制器上互換使用。

1. 高分辨率、高精度、高線性度

2. 適用于各種樣品，不管是透明還是不透明，高反射還是低反射樣品

3. 適合于各種材料表面（金屬、玻璃、半導(dǎo)體、塑料等等）

4. 樣品表面無需處理即可測量

5. 兩種測量模式：高度模式與厚度模式

6. 多種光筆可選

7. 采樣速度達(dá)10KHz