XP2U Automated-S 超微量天平描述
XP2U Automated-S微量天平加速您的稱量過程：全新的自動稱量模式提高了您的生產力，確保與機器人生產系統的無縫連接。較小的稱量室和獨立的不銹鋼外罩，獲得快速穩定的稱量結果。而自動升降樣品盤，實現了細小管狀樣品的簡便加載。
客戶利益:
加速稱量過程
簡便快速的樣品處理
提高生產力
XP2U Automated-S是梅特勒-托利多為特殊稱量應用提供的*的自動微量天平。
XP2U Automated-S 超微量天平技術參數：
zui大稱量范圍 | 2.1 g |
可讀性 | 0.1 μg |
線性化 | 全自動內置砝碼線性化校準 |
重復性 | 0.2 µg |
靈敏度（長時間穩定） | ± 0.0001% |
靈敏度（溫度漂移） | ± 1.0 ppm/°C |
穩定時間（典型） | < 10s |
去皮范圍 | 2.1 g |
外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
內部砝碼校準 | proFACT專業級全自動校準技術，溫度漂移和時間觸發（用戶設置）的內置砝碼校準 |
外形尺寸 | 132x310x147 mm / 224x366x94 mm |
稱量盤上方的有效高度 | 12 mm |
接口 | RS-232C、 LocalCAN、 Minimettler 或 第二 RS232接口（選配件） |
Weighing chamber | 61 mm x 22 mm |
物料號 (s) |
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