全自動多功能掃描探針顯微鏡/AFM

技術參數：
測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調制/力譜/粘附力/ 磁力/靜電力/ 開爾文/ 擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)
掃描方式：樣品掃描
測量頭部：AFM和SPM（全內置自動切換），可選配液相模式和納米壓痕測量頭
樣品尺寸：直徑20mm，厚度10mm
XY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，軟件控制電動定位
XY樣品定位裝置最小步進：0.3um
掃描范圍：100×100×10um（三維全量程閉環控制掃描器），3×3×2um（低電流模式掃描器）
XY方向非線性度：≤0.1%（閉環控制掃描器）
Z方向噪音水平（帶寬10~1000Hz時的RMS值）：閉環控制掃描器（典型值0.03nm，0.04nm），低電流模式掃描器（0.02nm）
激光光路系統：電動調節，全自動準直
視頻顯微系統：軟件控制電動變焦和連續變倍，軟件控制變換視野，分辨率2um
樣品溫度控制：室溫~150℃

主要特點：
全自動化桌面型SPM
直觀易用的軟件界面
全自動切換AFM和STM掃描頭
自動調整激光光路（懸臂—激光—四象限光電探測器）
軟件控制的電動樣品定位平臺
視頻顯微鏡系統軟件控制電動聚焦和變倍
視頻顯微鏡系統軟件控制定位樣品觀察視野
電動開關樣品室門
切換不同的測量模式，軟件自動調節參數
人體工程學設計