角分辨光譜系統(tǒng)
AR角分辨光譜儀測量范圍為250~2500 nm，內(nèi)置氘燈/鹵素?zé)艄庠矗c外控制器連接，分束鏡選用Polka，考慮到色差因素，光路設(shè)計，可集成Fluorite石英透鏡消除色差。
典型應(yīng)用
角分辨光譜測量主要應(yīng)用于光子晶體、超材料、光柵、結(jié)構(gòu)色、超晶格材料、微納光學(xué)、納米材料、LED液晶材料等光學(xué)特性的表征。
1、薄膜光譜：該系列樣品具有能帶結(jié)構(gòu)，在光譜呈現(xiàn)方面不同，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有精確的角度分辨能力；
2、SPP/SPR：表面等離子體的光譜比較敏感，對角度依賴性較強，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有寬泛的光譜測量波段和精確的角度分辨能力；
3、meta-material：在不同偏振態(tài)下，待測樣品的光譜特性不同，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有各偏振的分辨能力。
典型案例
光柵角分辨光譜
從圖中可以看出，光柵樣品的角分辨光譜具有一個正常色散能帶和一個反常色散能帶。Y軸為光柵樣品的衍射光譜與白板散射光譜的比值。
產(chǎn)品特點
1、角度測量范圍覆蓋0~360°全角度測量；
2、波段范圍涵蓋250~2500 nm寬譜段測量；
3、多維度精細調(diào)節(jié)，適合樣品的多樣性測量；
4、適配多波段偏振器件、濾光片等光學(xué)元件，可加載旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)支架，便于調(diào)劑。
5、配置高精度電機，角度重復(fù)精度±0.05°，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的角度定位，滿足各種角度的設(shè)置需求。
6、外部可新增Laser光源接口，使得AR測量可拓展到角分辨熒光光譜領(lǐng)域。
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