GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統

      材料分析夾具及配備分析軟件

關鍵詞：阻抗分析,壓電陶瓷，

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統是國內符合LXI標準的新一代高溫壓電阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統產品超高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統產品以其的性能可以實現商業標準和標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在全國各大學校和科研院所中廣泛使用。

一、常溫下可測量產品廣泛應用范圍：

1. 無源元件：傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器電,壓電器件，芯片組件和網絡元件等的阻抗參數分析和性能分析

2. 半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析

3. 其他元件：印制電路板，繼電器，開關，電纜，電池等的阻抗評估

4. 介質材料：塑料，陶瓷和其他材料的介電常數和損耗角評估

5. 磁性材料：鐵氧體，非晶體和其他磁性材料

6. 半導體材料:半導體材料的介電常數，電導率和C-V特性

7. .液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常熟等C-V特性

三、高溫主要測量參數：

1、測量以下參數隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因子（D）、品質因素（Q）等參數，

3、同時計算獲得反應材料導電、介電性能的復介電常數（εr）和介質損耗（D）參數。

二、主要技術參數：

1.測試頻率：20HZ-10MHZ（特殊可以定制）

2. 測試電平:10mV～5V±（10%+10mV）

3．溫度范圍：-80℃-600℃（可選）

2、測溫精度      0.1℃

3、升溫速度      1—20。C/min3.

4. 測試參數：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.控溫模式：  程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

6. 基本準確度: 0.1%

7.電極材質:   鉑銥合金

8.軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

9. 顯示器: 350×260點陣圖形LCD液晶顯示

10. 可測量22種阻抗參數組合

11. 接口方式: RS232C或HANDLER

12. 電壓:AC-220V

13. 體積：高80mm＊寬205mm＊長230mm

14. 重量:3.5KG

15、外形尺寸：     L360mmW370mmH510mm

16、凈   重：          22KG