產品概述

高標準回路電阻測試儀現貨直發200A回路電阻測試儀發揮自身技術優勢，精心研制的高精度、數字化開關檢測儀器。該儀器采用高頻大功率恒流開關電源技術，可測得微歐姆級接觸電阻。目前，電力系統中普遍采用常規的雙臂直流電橋測量接觸電阻，而這類電橋的測試電流僅m，難以發現回路導體截面積減少的缺陷。在測量高壓開關導電回路接觸電阻時，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測量值偏大若干倍，無法真實的反映接觸電阻值。為此，新電力部標準DL/T845.4—2004《電阻測量裝置通用技術條件：回路電阻測試儀》和新版檢定規程JJG1052-2009《回路電阻測試儀、直阻儀檢定規程》作出對測量（隔離）開關、斷路器等接觸電阻的測量電流不小于直流100A，小電流維持時間不低于60S的規定，確保試驗結果準確。
 產品特點

高標準回路電阻測試儀現貨直發覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，

EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，

抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，

產品參數

硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）.

GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.