國產臺式X熒光測厚儀Ux-720探測系統

　　功能：對樣品特征X射線進行探測，將采集來的信號進行數據處理，并將處理結果傳輸給計算機。

　　類型：Si-PIN X-123(美國)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系統峰背比：≥ 6200/1

　　能量響應范圍：1keV — 40keV

　　推薦計數率：5000cps

　　Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是華唯公司經過3年研發，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；華唯的VisualFp基本參數法分析軟件，可盲測（即：無需標準樣品標定），即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析，降低客戶購買標準樣品（尤其是特殊樣品）成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

　　Ux-720微動平臺

　　載物測試平臺，微調裝置在儀器右側，通過旋轉按鈕來調節樣品的移動，移動范圍為X軸和Y軸各15mm。結合260萬像素的高清CCD，對測試樣品進行定位，防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發生變化導致測試不準確。