gigahertz-optik X1-XD-45-HB

gigahertz-optik X1-XD-45-HB

gigahertz-optik X1-XD-45-HB

深圳市扎克貿易有限公司

張瑞 188-24-24-3080（V同）

光生物安全

來自人造和天然光源的光輻射會影響人體皮膚和眼睛的光生物學反應，并有因過度曝光而造成損壞的風險。針對工作場所的設備安全和職業安全，發布了包含有效限值的法規，標準和指南。國際上一致認可的設備安全要求要求制造商為其產品分類，設計標準和警告標簽，而工作場所安全則更趨于全國性，要求對員工的健康進行危害保護，包括已發布的接觸限值，威脅分析和預防措施。法規是：

設備安全的IEC 62471：2006和EN 62471：2008

2006/25 / EC指南和DIN EN 14255-1，用于工作場所安全

IEC TR 62778：2014，用于評估光源和燈具的藍光危害

整體測量技術

Gigahertz-Optik GmbH作為濾光光度計，色度計和輻射度計的制造商，自1992年以來就制造了用于光危害測量和評估的光度計。危害光度計的早期單傳感器設計后來被雙或多傳感器取代。單元檢測器可改善測量不確定度（可以更好地調節光譜靈敏度功能），并且操作更簡單。的設計模型X1-3光危害儀符合2006/25 / EC，IEC 62471，EN 62471，EN 14255-1和IEC TR 62778測量標準，用于評估危害暴露。

整體測量技術與雙重單色儀

積分測量技術是對雙光柵單色儀光譜輻射儀（該應用確的紫外線輻射儀）的補充或替代測量方法。基于雙單色儀的儀器價格昂貴，基于實驗室，精密且包括多個部件，因此很難移動。現在，Gigahertz-Optik的X1-3光危害儀可提供便攜式，手持且低成本的解決方案。完整的儀器包括緊湊型顯示單元，XD-45-HB藍光危害檢測器和XD-45-HUV紫外線危害檢測器。它是專為評估工作場所安全和產品分類中由于暴露于紫外線和藍光下而引起的潛在健康風險而設計的。它的簡單用法和價格水平滿足了燈具分銷商，光源系統和照明設備制造商，機構和工業安全工程師，衛生學家以及其他無需第三方測試實驗室即可獨立進行例行和定期危害健康的光輻射測量的需要。

校準

Gigahertz-Optik GmbH強調準確的保形紫外線和藍光危險光測量需要具備基本的輻射學知識，并遵循適當的輻射技術并了解適用的標準！由于我們測量每個集成傳感器的相對光譜靈敏度，因此已發布的CIE 220批準了我們的校準方法。該數據可以用于例如光譜失配的校正。這表明，除了生產這種儀表的專業知識外，還需要裝備精良的校準實驗室。Gigahertz-Optik可以提供別的服務，此外，每臺設備均附帶校準證書，該證書可追溯到國家標準。

X1-3顯示單元

為了在紫外線，藍色和可見光譜范圍內進行現場光危害測量，Gigahertz-Optik制造了多種檢測器頭，每個檢測器頭均采用多種傳感器設計，例如見的XD-45-HB和XD-45-HUV。要讀取此多單元檢測器，請使用X1-3顯示單元，其主要功能是：

多細胞檢測器的四通道電子設備

寬動態范圍（ pA至200 μA放大器）

低噪聲，高靈敏度（ pA分辨率）

自動量程增益控制

四列字母數字背光顯示

*的微處理器操作

大數據存儲容量

簡單易用的菜單支持操作

符合人體工學的手持式儀表設計

電池或USB電源操作

USB接口

快速操作指南

打開儀表后，通過按菜單按鈕可以打開主菜單。根據測量應用，通過其型號選擇連接到儀表的紫外線危害或藍光危害檢測器。通過輸入鍵激活檢測器校準數據，并自動將顯示設置為相關的測量值。如果應用中的光源特性未知，則使用平均校準系數。與光源發射光譜相關的測量不確定度被計入平均儀器不確定度。如果可以無可辯駁地識別光源，則可以從菜單中的庫中選擇依賴于光源的校準校正因子，以減少測量不確定度。然后儀器準備好進行實際測量。

文章編號 型號 描述 請求/比較

產品

X1-3

儀表，硬盒，2 x V AA電池，手動

XD-45-HB

檢測頭，保護蓋，校準證書

XD-45-HUV

探測器頭，保護蓋，80°FOV適配器，校準證書

校準

KP-XD45HBX1-EI

選項：DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書（DAkkS）。

在300nm至700nm的波長范圍內的整體輻照度和照度。結合X1。

KP-XD45HUVX1-EI

選項：DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書（DAkkS）。

波長范圍為315 nm至400 nm的積分輻照度和ICNIRP / ACGIH加權范圍為200 nm至400 nm的積分輻照度。結合X1。

KP-XD45HUVXD45HBX1-EI

選項：DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書（DAkkS）。

XD-45-HUV在315 nm至400 nm波長范圍內的積分輻照度和ICNIRP / ACGIH加權在200 nm至400 nm波長范圍內的積分輻照度。

XD-45-HB在300nm至700nm波長范圍內的整體輻照度和照度。結合X1。

重新校準

K-X1-C

X1的當前校準和調整1.校準證書

K-XD45HB-I

用校準證書重新校準輻照度

KKP-XD45HBX1-EI

XD-45-HB出廠校準證書以及DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書。結合X1。

K-XD45HUV-I

用校準證書重新校準輻照度

KKP-XD45HUVX1-EI

XD-45-HUV工廠校準證書以及DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書。結合X1。

KKP-XD45HUVXD45HBX1-EI

XD-45-HB和XD-45-HUV工廠校準證書以及DIN EN ISO / IEC 17025：2018測試證書。結合X1。

選項

XD-45-HB-SRT200

前置適配器，可互換11弧度和100弧度光圈

XD-45-HB-SRT200-鋁

前置適配器可更換11毫弧度和100毫弧度的光圈。鋁制管，包括黑色內涂層。適用于測量位置的較高溫度。

軟件

S-X1

X1的用戶軟件

S-SDK-X20

用于將X20驗光板或X1設備的軟件實施到定制軟件中。提供用于設備通訊的.dll和LabView VI。