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由于該產(chǎn)品已進(jìn)行多次功能升級(jí)和更新迭代，我們不保證 FM-Nanoview EC-AFM環(huán)境控制光學(xué)金相顯微鏡原子力一體機(jī)提供的圖片和各項(xiàng)參數(shù)等信息均為，我們建議您點(diǎn)擊此處聯(lián)系我們的在線工程師為您服務(wù)，同時(shí)我們也歡迎您電話咨詢：!
更多精彩請(qǐng)?jiān)L問： FM-Nanoview EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡（光學(xué)金相顯微鏡原子力一體機(jī)） /products/pe/afm/ec-afm/
FM-Nanoview EC-AFM產(chǎn)品特點(diǎn)
- 光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計(jì)，功能*
- 同時(shí)具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時(shí)工作，互不影響
- 可同時(shí)在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
- 樣品掃描臺(tái)和激光檢測(cè)頭封閉式設(shè)計(jì)，內(nèi)部可充放特殊氣體，無需增加密封罩
- 激光檢測(cè)采用了垂直光路設(shè)計(jì)，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
- 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
- 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品
- 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
- 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%
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