對于故障檢測過程中的一些技術(shù)問題，非破壞性超聲波探傷設(shè)備的制造廠家，例如專業(yè)超聲波探傷設(shè)備，仍然存在于室溫下熔化的柱狀晶粒，該柱狀晶體的晶粒較厚，結(jié)構(gòu)不均勻，各向異性柱狀晶粒的特征在于相同的晶粒尺寸并且在不同方向上測量，在這個意義上，從不同方向的檢測使衰減與信噪比不同。


　　當(dāng)光束與柱狀晶體之間的角度，衰減小并且信噪比相對高，當(dāng)光束垂直于柱狀晶體時，衰減很大，信噪比相對較低，聲束方向偏轉(zhuǎn)現(xiàn)象，不同部位下波幅度的差異，給超聲波檢測故障帶來了困難，因為它們測量缺陷的長度，所以靈敏度和長度測量方法，是在超聲波探傷設(shè)備的靈敏度恒定的條件下探傷沿缺陷長度平行移動，當(dāng)缺陷波的高度下降到預(yù)定位置時，探傷移動的距離是指示的缺陷長度。


　　在探頭長度測量掃描期間，如果缺陷反射峰發(fā)生變化，比如超聲波探傷設(shè)備的使用，探頭在兩端反射的波的大值之間的長度可能會丟失，以確定長度缺陷指示，稱為端點(diǎn)峰值方法，通過峰值法測量的缺陷長度小于通過6dB方法測量的指示長度，只有在長度測量掃描期間，終點(diǎn)峰值方法也是適用的。


　　超聲波探測法是常用于測量缺陷長度的方法，它適用于在長度測量過程中故障波具有高點(diǎn)的情況，當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時，探傷沿缺陷方向向左和向右移動，并且在缺陷的兩端發(fā)現(xiàn)大反射波，基于兩個端點(diǎn)的反射波的高度，移動探傷向右移動到左側(cè)，并且探傷的反射波的高度減半，之間的距離是指示的缺陷長度。