x熒光光譜儀分析儀原理：

x熒光光譜儀分析儀是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態。

x熒光光譜儀分析儀簡稱光譜儀,就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光光譜儀。

臺式X熒光光譜儀工作原理圖

x熒光光譜儀分析儀分類：

根據類型不同，可以分為手持式X熒光光譜儀，便攜式X熒光光譜儀，臺式X熒光光譜儀分析儀。

根據分光方式的不同，X熒光光譜儀分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。

x熒光光譜儀分析儀圖片：

x熒光光譜儀分析儀構造與組成：

X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。

不同元素具有波長不同的特征X射線譜，而各譜線的熒光強度又與元素的濃度呈一定關系，測定待測元素特征X射線譜線的波長和強度就可以進行定性和定量分析。本法具有譜線簡單、分析速度快、測量元素多、能進行多元素同時分析等優點。