許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來完成作業(yè)的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。
X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。
然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量，在有關(guān)X射線熒光光譜儀技術(shù)原理我們有更多的關(guān)于X射線熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關(guān)介紹。
下面讓我們來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點都有哪些？
XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要有六個組成部分，他們分別是：
1.分析速度高
測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)
X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
熒光光譜分析儀.jpg
3.化學狀態(tài)的改變
非破壞分析在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4.物理分析法
X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析精密度高。
制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只有三項，他們分別是：
1.難于作分析，故定量分析需要標樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受相互元素干擾和疊加影響。
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