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針對大 10 × 10 mm 的測量區(qū)域,可瞬間獲取 8 萬個點(diǎn)的高度。 由于采用白光干涉原理,不受材質(zhì)/顏色、死角的影響,實(shí)現(xiàn)了微米級的高精度測量。

測量多點(diǎn)時,需要高精度且高速掃描目標(biāo)物。 因此,往往會將時間浪費(fèi)在移動載物臺上,不易進(jìn)行全數(shù)檢測。 由于 WI-5000 系列是以面進(jìn)行同時測量,因此可大幅縮短測量時間,實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢測。

為了用于離線檢測,備有可固定傳感器頭的底座。 配備可削減檢測工時的各種實(shí)用功能。 改善從簡易測量到保存數(shù)據(jù)等各種情況的可操作性。