我們這篇文章來講述低溫箱做試驗(yàn)時(shí)非散熱試驗(yàn)樣本溫度突變的低溫試驗(yàn)（簡稱：本試驗(yàn)）本試驗(yàn)用以確定經(jīng)受溫度突變不致產(chǎn)生損傷作用的非散熱電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）低溫下貯存和使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)樣本應(yīng)在低溫下放置足夠長時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間通常從樣本達(dá)到溫度穩(wěn)定是開始計(jì)算。
本試驗(yàn)是將具有室溫的試驗(yàn)樣本放入溫度為相關(guān)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)的符合嚴(yán)酷等級(jí)的低溫箱內(nèi)，試驗(yàn)樣本達(dá)到溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露標(biāo)準(zhǔn)的持續(xù)時(shí)間，試驗(yàn)樣本通常處于不工作狀態(tài)下。
低溫箱工作空間內(nèi)，應(yīng)能提供合適的溫度條件，可以用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻，為了限制輻射影響，箱內(nèi)璧各部分溫度與標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)溫度之差不應(yīng)超過8%（按開爾文溫度計(jì)算），且試驗(yàn)樣本不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
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