前面已經(jīng)介紹了電阻、電感、電容、核輻射、超聲、微波、激光等測(cè)長(zhǎng)、測(cè)厚的方法。關(guān)于電阻法、電感法和電容法的標(biāo)定方法可參見章內(nèi)容。這里就其它幾種方法的標(biāo)定分述如下。

2.14.1 核輻射測(cè)厚的標(biāo)定

    要確定產(chǎn)品的厚度，通常用標(biāo)準(zhǔn)板來進(jìn)行標(biāo)定，即用同樣的探測(cè)器和同樣的輻射源分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)厚度板和被測(cè)厚度板的所測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較。

    為了提高整機(jī)精度，需注意選擇探測(cè)器及電子線路。就探測(cè)器的選擇來說，若需測(cè)定β位子，則可用β粒子計(jì)數(shù)器(它是蓋革計(jì)數(shù)器的一種)。對(duì)于裝有質(zhì)量厚度為2~3 毫克/厘米2薄的云母小窗的鐘罩式計(jì)數(shù)管，可以探測(cè)能量在0.5 百萬電子伏特以上的β粒子。而高能量的β射線，可以用液態(tài)或固態(tài)井型困筒狀的閃光計(jì)數(shù)器測(cè)量。

    對(duì)于α 射線的測(cè)定，可用脈沖電離室、ZnS 閃爍計(jì)數(shù)器和正比計(jì)數(shù)器進(jìn)行測(cè)定。最近已發(fā)展為采用硅二極晶體的困態(tài)、檢測(cè)器測(cè)定。

    對(duì)于γ 射線的測(cè)定，可用碘化鈉閃爍計(jì)數(shù)器和電離室〈不是薄窗的〉進(jìn)行測(cè)定。
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