X熒光鍍層測厚儀儀器簡介：
XAU-4CS是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，是一款一機多用型光譜儀。
應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
技術(shù)參數(shù)：
1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）
2. 成分檢出限：1ppm
3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）
4. 涂鍍層檢出限：μm
5.小測量直徑□*（最小測量面積）
標(biāo)配：最小測量直徑（最小測量面積）
6. 對焦距離：0-30mm
7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量：45KG
10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm
11. XY軸工作臺承重：5KG
應(yīng)用領(lǐng)域
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