OLYMPUS 45MG聲測厚儀
產品特點：
回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數據記錄器：45MG測厚儀帶有1個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數。
技術規格：
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的延遲到個回波之間的時間間隔。 |
自動回波到回波（可選） | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 |
厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項） |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
1般規格 | |
操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
鍵盤 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
電源 | 3節AA電池/USB電源供應 |
電池工作時間 | 3節AA堿性電池：20到21小時 |
標準 | 設計符合EN15317標準 |
顯示 | |
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） |
輸入/輸出 | |
USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
內置數據記錄器（可選） | |
數據記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形 |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼 |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
報告 | 機載報告總結了數據統計和zui小值/zui大值 |
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