公司概述

Camtek是一個的開發商和制造商的半導體行業檢驗和計量設備。Camtek的系統檢查和測量晶圓半導體器件的整個生產過程,包括前道和封裝,和組裝的檢測。Camtek系統檢查晶片是苛刻的半導體市場,包括互連包裝、內存、CMOS圖像傳感器、微機電系統和射頻,服務的IDMs OSATs和鑄造廠。

性能：Camtek檢驗和計量系統可以在高通量檢測有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶的終產品。的包裝技術的增長,已被證明是解決方案的產品,Camtek提供了各種檢驗和計量技術,可以根據客戶的需求快速高效地幫助他們滿足嚴格的要求沒有缺陷的產品以及支持需求增長和投放市場的時間。

：Camtek使得它的技術人檢驗和計量在半導體領域的細分市場服務,通過交付解決方案,已成為許多應用的行業標準。 獲勝的結合性能和靈活性與易操作和可靠性,為客戶提供的資本投資。

響應性：本地團隊在每一個領域是獨立的,能夠安裝系統,添加新功能和提供所需的的服務我們的客戶。精益組織結構使快速反應引起行業需求和挑戰。Camtek軟件,模塊化的體系結構的系統可以解決的客戶需求的高度定制,同時提供簡單和具有成本效益的領域升級包安裝設備。

EagleT-i是AOI市場上2D檢測速度快的設備之一，其中囊括了CAMTEK進的機構、新的鏡頭、速的傳輸信道。檢測原理與MVP有點類似，都是通過工業相機進行圖像采集，然后用影像處理軟件對圖像進行分析，對于不同的檢測應用，他們的軟件中有的算法來做判斷。所以他們的產品優勢在于影像處理的硬件和軟件方面。

主要應用領域：CMOS傳感器陣列，LED良率監測，MEMS特殊結構監測，TSV，mBUMP等。大量產的2D檢測適用于部分前道工藝：電鍍bump前后檢測、電測針印大小的檢測、OQC檢測、劃片后的檢測等；

產品優勢：

基于CAD圖層檢測；

的圖像銳化功能；

可以檢測RDL后小到2um線寬；

兼容檢測方片、翹曲片；

可以檢測小到的表面缺陷；

多重放大倍數，提高檢測能力。

CAMTEK 自動光學檢驗AOI設備Fan-out

Camtek的校準和訴訟機制結合的檢驗和計量能力解決挑戰性的Fan-out

的過程。
我們的系統支持表面檢驗能力和的計量信息死層之間結合位置對齊數據。
系統生成各種報告,增加產量和提高產量。

功能

?RDL檢查和計量
?檢查多層晶片
?多種光學設置所有步驟和缺陷類型
?3 d高度和co-planarity測量
?死位置測量

技術

?Camtek的白光三角測量傳感器
?的缺陷檢測和計量處理引擎
?高分辨率三維共焦傳感器
?光干涉測量技術對3 d

產品

Eagle-AP

Eagle-AP提供2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持的性能和吞吐量水平。

Eagle-i

進的2 d表面缺陷檢驗和計量系統,實現高容量生產前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標記檢查,OQc等等。

EagleT-AP

為的包裝設計市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個快的和的2 d檢查工具在市場上。