梅特勒XP204分析天平工作原理
梅特勒XP204分析天平產(chǎn)品特點(diǎn)：
zui大限度地減少靜電荷
我們的 StaticDetect 靜電檢測技術(shù)可檢測樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯誤過用戶定義的限值，則出現(xiàn)警告；然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性，可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。
用戶引導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實(shí)驗(yàn)室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實(shí)現(xiàn)??過程安全性和可追溯性要求，并支持您實(shí)現(xiàn)無紙化實(shí)驗(yàn)室。
結(jié)果可靠
越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識相結(jié)合，確保您快速、可靠地獲得的稱量結(jié)果！
無需接觸天平的操作
越系列分析天平采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應(yīng)器可使您揮一下手即可進(jìn)行操作，使稱量任務(wù)更加輕松，避免交叉污染問題（例如：打開/關(guān)閉防風(fēng)罩門）。
易于清潔
憑借的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩，始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。
梅特勒XP204分析天平工作原理
梅特勒XP204分析天平技術(shù)參數(shù)：
型號 | XP105DR | XP204 | XP205 | XP205DR | XP504 |
zui大稱量值 | 120g | 220g | 220g | 220g | 520g |
精細(xì)量程的zui大稱量值 | 31g | …… | …… | 81g | …… |
可讀性 | 0.1mg | 0.1mg | 0.01mg | 0.1mg | 0.1mg |
精細(xì)量程的可讀性 | 0.01mg |
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| 0.01mg |
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重復(fù)性：正常加載(sd) | 0.06mg（100g） | 0.07mg（200g） | 0.03mg（200g） | 0.06mg（200g） | 0.12mg（500g） |
重復(fù)性：微量加載 | 0.05mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.015mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.01mg（10g） |
重復(fù)性：精細(xì)量程微量加載 | 0.015mg（10g） | …… | …… | 0.015mg（10g） | …… |
線性 | 0.15mg | 0.2mg | 0.1mg | 0.15mg | 0.4mg |
四角誤差 | 0.2mg（50g） | 0.25mg（100g） | 0.2mg（100g） | 0.25mg（100g） | 0.4mg（200g） |
靈敏度漂移 | 4x10-6 | 3x10-6 | 2x10-6 | 2.5x10-6 | 3x10-6 |
靈敏度溫度漂移（10-30°C） | 1x10-6/°C | ||||
接口更新速率 | 23/s | ||||
天平外型尺寸 | (W×D×H mm)263×486.5×322 | ||||
秤盤尺寸(W×D mm) | 76×73 | ||||
【關(guān)鍵詞】：分析天平 梅特勒XP204分析天平 電子分析天平規(guī)格
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