晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
產品介紹：
當高強度光照射到物體上時（*1） ，會發生廷德爾現象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。
*1：半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等！
UIH-1C型規格
京都玉崎 * INTECS英特斯現貨超高亮照明裝置UIH-1C
UIH-2D型規格
*1 為了保護燈泡，即使在主電源開關關閉的情況下
，仍可通過風扇維持冷卻直至燈室內溫度降至約 40℃ 以下的功能。
深圳市京都玉崎電子有限公司
標準會員·1年
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晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研發本設備的目的，正是為了使此類檢查變得更加簡易化。將高亮光照射在對象物品（半導體晶圓，玻璃屏，光學部件，透鏡等）上，通過所產生的丁達爾現象，可確認劃痕，塵埃，內部異物以及氣泡等。
晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置
產品介紹：
當高強度光照射到物體上時（*1） ，會發生廷德爾現象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。
*1：半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等！
京都玉崎 * INTECS英特斯現貨超高亮照明裝置UIH-1C
*1 為了保護燈泡，即使在主電源開關關閉的情況下
，仍可通過風扇維持冷卻直至燈室內溫度降至約 40℃ 以下的功能。
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