東莞市眾升儀器有限公司
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半導體靜電放電發生器是專門為半導體器件及IC的抗靜電測試而設計,參照國家標準GJB548A-96方法3015、國家標準GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的測試要求。電腦控制,全部參數數字設定。輸出電壓精度高,性能穩定,測試結果精 確。采用探針夾,使用靈活方便。
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