- 中國總代理德國安捷特鍍層測厚儀
- 【ACZET系列介紹：】
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
二、【ACZET系列特點：】
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
三、【ACZET系列優勢：】
- 操作簡單，只需要很少的培訓就可以操作
- 檢測速度快，無損檢測只需幾秒鐘
- 可測試單層及多層鍍層的厚度
- 可以測試電鍍液中金屬離子含量
- 對測試樣品*無損
- 市場上*高性價比
- 自動化批量檢測：可選配XYZ全自動工作臺
- 應用行業廣泛：電子，珠寶，金屬加工等等
X-Master是一款具備龐大應用功能的軟件，并且我們更多新的應用正不斷地加入更多新的應用。
可選軟件模塊
- µ-Master 用于鍍層厚度測量
- Element-Master 用于材料分析
- Report-Master 用于生成報告文件
- Data-Master 用于數據庫管理
- %-Master 用于材料分析（珠寶）
- Liquid-Master 用于電鍍液分析
Cube系列技術特點
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
- 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
- 鍍層層數：多至5層。
- 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
- 測量時間：通常35秒-180秒。
- 樣品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
- 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
- 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
- 同時定量測量8個元素。
- 定性鑒定材料達20個元素。
- 自動測量功能：編程測量，自定測量；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；定量分析功能：合金成份分析
數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。
二、特點
采用基本參數法校準，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。
具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試
相比其他分析設備，投入成本低
儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現性
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析
鍍層分析:可分析四層以上厚度,的FP分析軟件,真正做到無標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
采用基本參數法校準，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。
具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試
相比其他分析設備，投入成本低
儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現性
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析
鍍層分析:可分析四層以上厚度,的FP分析軟件,真正做到無標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
三、技術參數
| Item 項目 | Part & Ref Number 部件號 | Commodity & Description 貨物及描述 |
| 1 | Cube X射線鍍層測厚儀 |
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