EPP2000 高分辨率光纖光譜儀 – 用于UV-VIS-NIR 應用。低成本，高性能，適用于高分辨率科研要求，*高分辨率可以做到0.1nm。特別是用于激光和LED的波長測試和表征，更適用于LIBS激光誘導等離子體發光測試中。
性能參數：
| EPP2000 高分辨率光譜儀 | 預估分辨率 | |||||||
| 型號 | 波長范圍(nm) | 光柵刻劃線(g/mm) | 一次攝譜范圍 | 線色散倒數 | Slit-25 nm res. | Slit-14 nm res. | Slit-7 nm res. | |
| UV3 | 200-340 | 1800 | 140 | 0.068 | 0.30 | 0.20 | 0.10 | |
| UV4 | 200-300 | 2400 | 100 | 0.048 | 0.21 | 0.14 | 0.07 | |
| NIR2 | 900-1075 | 1200 | 175 | 0.085 | 0.26 | 0.17 | 0.09 | |
| NIR3 | 750-850 | 1800 | 100 | 0.049 | 0.15 | 0.10 | 0.05 | |
| NIR4 | 500-580 | 2400 | 80 | 0.039 | 0.12 | 0.08 | 0.04 | |
| UVN-SR | 200-1100 | *300 | 900 | 0.440 | 1.50 | 1.00 | 0.50 | |
性能參數：
| 動態范圍: 2000:1 with 6 decades | 尺寸: 44 x 94 x 150 mm |
| 光譜分辨率: see model table - to 0.1nm | 功耗: 100 mA @ 5 VDC |
| 探測器類型: 2048 pixel CCD | 接口: USB-2 and/or EPP Parallel |
| 探測器范圍: 200-1200nm | 信噪比: 1000:1 CCD |
| 像素尺寸: 14um x 200um | 積分時間: 1ms to 65s |
| AD轉換: 16-bit or 14-bit | 狹縫大小: 7, 14, 25, 50, 100, 200um |
| 光柵刻劃線g/mm: 300, 600,1200,1800, 2400 | 雜散光: <.1% at 435nm;<.05% at 600nm |
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