布魯克Bruker 三維光學輪廓儀ContourX-100
具備性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉（WLI）創新技術，具有*的二維/三維高分辨測量能力。新一代增強功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺，實現更多縫合功能，并新增一個測量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦學應用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱的臺式系統。
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布魯克Bruker 三維光學輪廓儀ContourX-100
具備性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉（WLI）創新技術，具有*的二維/三維高分辨測量能力。新一代增強功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺，實現更多縫合功能，并新增一個測量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦學應用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱的臺式系統。
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