局部放電檢測(cè)儀BS-9302型

簡(jiǎn)單介紹：

本系列局部放電檢測(cè)儀是我廠近年來(lái)新研制生產(chǎn)的又一新穎局部放電檢測(cè)儀。廣泛適用于變壓器、互感器、高壓開(kāi)關(guān)、氧化鋅避雷器、電力電纜等各種高電壓電工產(chǎn)品的局部放電的測(cè)量，產(chǎn)品的型式試驗(yàn)、絕緣的運(yùn)行監(jiān)督等。的運(yùn)行監(jiān)督等。該儀器檢測(cè)靈敏度高，試樣電容覆蓋范圍大，適用試品范圍廣。是電力部門(mén)、制造廠家和科研單位等廣泛使用的局部放電測(cè)試儀器。

局部放電檢測(cè)儀BS-9302型

主要特點(diǎn)：

1、具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便。

2、保持了原有局部放電檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。

3、采用的抗干擾組件和的門(mén)顯示電路，抗力強(qiáng)。

別稱(chēng)：局部放電測(cè)試儀、局部?jī)x、局部放電測(cè)試系統(tǒng)、局部放電檢測(cè)儀、局部放電測(cè)量?jī)x

技術(shù)指標(biāo)：

1．可測(cè)試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF

2．檢測(cè)靈敏度及允許電流(見(jiàn)表1)。
3．橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線(xiàn)。
(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍：＞10倍。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性：＜5%。
6．時(shí)間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
7、脈沖峰值表
(1) 線(xiàn)性指示：0~10不大于5%。
(2) 對(duì)數(shù)指示：1~10不大于5%。

注意事項(xiàng)：

1.在試驗(yàn)加壓操作時(shí)，試驗(yàn)人員必須仔細(xì)而全面地檢查一遍線(xiàn)路，以免線(xiàn)路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線(xiàn)是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線(xiàn)被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對(duì)于連接線(xiàn)應(yīng)避免將暴露在外，防止電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線(xiàn)及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3.在試驗(yàn)過(guò)程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿(mǎn)刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿(mǎn)刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。
5. 試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。