• 配有寬范圍且高分辨力的 Z 軸檢出器。
• 測量范圍
Z1 軸 (檢出器): 5mm(分辨力: 0.0008μm測量范圍為0.05mm時適用)
X 軸: 100mm(分辨力: 0.05μm)
• 檢出器的延伸量：大70mm (可固定在所需的位置)。
• 使用FORMTRACEPAK 軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現(xiàn)優(yōu)良的表面紋理評估。
規(guī)格
| 貨號 | CS-3200S4 | ||
| 測量范圍/ 分辨力 | X 軸 | 100mm/0.05µm | |
| Z1 軸 (檢出器) | 5mm/0.08µm | ||
| 0.5mm/0.008µm | |||
| 0.05mm/0.0008µm | |||
| Z2 軸 (立柱) | 1 µm | ||
| 精度 (20ºC) | X 軸 | ±(0.8+0.01L) µm (L= 測量長度(mm)) | |
| Z1 軸 (檢出器) | ±(1.5+|2H|/100) µm H = 水平位置上的測量高度 (mm) | ||
| 驅(qū)動部 | 直線度 (X 軸) | 正常使用下 | 0.2µm/100mm |
| 當伸出到程度 | 0.4µm/100mm | ||
| 測量速度 | 表面粗糙度測量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4-step) | |
| 輪廓測量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7級) | ||
| 驅(qū)動速度 | X 軸 (水平方向) | 0 to 80mm/s 外加手動 | |
| Z2 軸 (垂直方向) | 0 to 20mm/s 外加手動 | ||
| 上/下移動 | 300mm (電動) | ||
| 傾角范圍 | ±45º | ||
| 檢出器 | 檢出方式 | 差動感應(yīng) | |
| 測力 | 0.75mN | ||
| 測針名稱 | 標準測針 (用于粗糙度/輪廓測量) | 針尖角度: 60º 圓錐, 針尖半徑: 2µm, 金剛石針尖 | |
| 圓錐型 (用于輪廓測量) | 針尖角度: 30º 圓錐, 針尖半徑: 25µm, 藍寶石針尖 | ||
| 測針上/ 下運作 | 適用 (可在半空停頓) | ||
注:雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的
日本三豐表面粗糙度測量機 CS-3200
日本三豐表面粗糙度測量機 CS-3200
所有評論僅代表網(wǎng)友意見，與本站立場無關(guān)。