產(chǎn)品概述：

便攜式局部放電測試儀具有檢測靈敏度高，適用試品范圍廣，信噪比高等特點(diǎn)。采用大屏幕示波管，試驗(yàn)波形顯示清晰，有高頻橢圓掃描（攝取功率小于1伏安），放大系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大，頻帶組合多（九種），有輔助零標(biāo)系統(tǒng)，有線性、對數(shù)雙功能指針式表頭和數(shù)字式表頭，可同時(shí)顯示放電脈沖的放電量。 
是研究、開發(fā)新型高電壓電工產(chǎn)品和提高產(chǎn)品質(zhì)量的有力輔助工具，也是現(xiàn)場判斷設(shè)備正常與否的有效測試儀器。該儀器與校正脈沖發(fā)生器配合使用，尤其適合電力部門、生產(chǎn)制造廠家和科研單位。

產(chǎn)品特點(diǎn):

便攜式局部放電測試儀具有內(nèi)置超聲傳感器，地電波、超聲波二合一傳感器，可選變壓器傳感器、GIS傳感器、電纜傳感器等部件；
1、連續(xù)檢測特高頻、地電波及超聲波信號，判斷是否存在局部放電；
2、實(shí)時(shí)顯示被測信號的變化趨勢、可對局部放電信號的發(fā)展作出較為直觀的判斷；
3、具備數(shù)據(jù)的現(xiàn)場存儲(chǔ)功能。
4、適用范圍：LDJF-601B手持式局部放電檢測儀采用非侵入式檢測方式，對高壓電氣設(shè)備的局部放電缺陷進(jìn)行檢測及定位。
5、傳感器配置
標(biāo)配：超聲波傳感器(UA)、地電波傳感器(TEV)
選配：變壓器傳感網(wǎng)、GIS特高頻傳感器、高壓電纜傳感器，也可根據(jù)用戶要求定制。
① 超聲波傳感器：20～200(kHz);
② 地電波(TEV)：3 ~ 100MHz。
③ 特高頻傳感器：300～2000(MHz)，具備定向接收特性；

產(chǎn)品參數(shù)：

1、檢測原理：超聲波法(UA)、地電波法(TEV)及特高頻法(UHF)。
2、檢測頻帶：
超聲波: 40～200KHz
地電波: 3~100MHz
特高頻: 300~2000MHz
3、測量范圍：
超聲波： -90～80dB
地電波： -80～10dBm
特高頻： -80～10dBm
4、靈敏度：小10pC(具體取決于傳感器與放電源之間的距離)。
5、成套配置：主機(jī)、傳感器、交流適配器、連接電纜及運(yùn)輸箱
6、屏幕顯示：高對比度 3.5 英寸TFT彩屏。
7、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可保存 1000 組測試數(shù)據(jù)。
8、工作電源：內(nèi)置 8.4V 鋰電池，可連續(xù)工作 8 小時(shí)。
9、電源：輸入100-240VAC，輸出8.4V/3A，充電時(shí)間3～4小時(shí)。
10、外形尺寸：230 120 55(mm)。
11、儀器重量：0.7kg。
12、使用溫度：-25℃～45℃。
13、存儲(chǔ)溫度：-35℃～60℃。

注意事項(xiàng):

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對于連接線應(yīng)避免將暴露在外，防止電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)局部放電測試儀的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。
5. 局部放電測試儀試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對整個(gè)測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。