橢圓偏振測厚儀產(chǎn)品介紹：

FMD6133手動橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節(jié)測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法廣泛地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到zui薄和精度zui高的一類。

實驗項目：

1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能

2.掌握如何利用設備測試樣品的方法

技術指標：

偏振器方位角讀數(shù)范圍：0°-180°

測量范圍：1nm-300nm

測量值：≤1nm

入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°

度盤刻度：每格2度

游標格值：0.05°

光學中心高度：152mm

工作臺直徑：Φ70mm

外形尺寸：730mm230mm290mm

產(chǎn)品重量：20kg；

產(chǎn)品介紹：

FMD6133手動使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節(jié)測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法廣泛地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到zui薄和精度zui高的一類。

實驗項目：

1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能

2.掌握如何利用設備測試樣品的方法

技術指標：

偏振器方位角讀數(shù)范圍：0°-180°

測量范圍：1nm-300nm

測量值：≤1nm

入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°

度盤刻度：每格2度

游標格值：0.05°

光學中心高度：152mm

工作臺直徑：Φ70mm

外形尺寸：730mm230mm290mm

產(chǎn)品重量：20kg；